Жариялыным тізімдері

1
Мигунова А. А. High temperature X-ray diffractometry of thin film system Be-Ti with different content of beryllium 2005 - г. 2 - стр.
2
Мигунова А. А. High temperature X-ray diffractometry of thin film system Be-Cr with different content of beryllium 2005 - г. 2 - стр.
3
Мигунова А. А. Возможности усовершенствования, упрощения и удешевления технологии изготовления кремниевых солнечных элементов 2005 - г. 4 - стр.